服务能力

(说明：请输入需要查询仪器名称，系统会进行模糊查询。查询结果仅供参考。)
认可的校准与测量能力
被测（参量/仪器/物质） 校准类别/校准参量 测量仪器型号/校准方法 扩展不确定度 测量环境/影响量 测量等级
剂量仪 空气比释动能率 在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 185GBq (2013)
最小:1.00E-03
最大:1.50E-02
单位:Sv h-1
剂量仪 空气比释动能率 在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 37GBq (2013)
最小:1.00E-04
最大:3.00E-03
单位:Sv h-1
剂量仪 空气比释动能率 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 10 GBq (1964)
最小:1.00E-05
最大:2.00E-04
单位:Sv h-1
个人剂量仪 个人剂量当量率Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:X-ray, 50 kV to 420 kV
指标:60 kV to 300 kV, ISO4037 重过滤窄谱
最小:1.00E-03
最大:1.00E-01
单位:Sv h-1
个人剂量仪 个人剂量当量Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Co-60
指标:ISO 4037, 43 TBq (1986)
最小:1.00E-03
最大:1.00E+00
单位:Sv
个人剂量仪 个人剂量当量Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Co-60
指标:ISO 4037, 111GBq (2014)
最小:1.00E-05
最大:5.00E-02
单位:Sv
个人剂量仪 个人剂量当量Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Co-60
指标:ISO 4037, 93GBq (1996)
最小:5.00E-06
最大:5.00E-04
单位:Sv
个人剂量仪 个人剂量当量Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 2.2TBq (2014)
最小:1.00E-03
最大:1.00E+00
单位:Sv
个人剂量仪 个人剂量当量Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 185GBq (2013)
最小:1.00E-06
最大:3.00E-03
单位:Sv
个人剂量仪 个人剂量当量Hp(10) 使用模体在校准过的辐射场中辐照
数值:4.5
单位:%
k=:2
置信概率:~95%
是否为Urel:是
参量:Cs-137
指标:ISO 4037, 37GBq (2013)
最小:3.00E-06
最大:8.00E-03
单位:Sv
开展校准的被测设备清单
被测设备名称 校准方法（名称、编号、版本号） 限制范围和说明
台阶高度 NIM-ZY-NM-NM-001 计量型原子力显微镜纳米测量系统操作技术规范 测量范围(0～2000)nm
沟槽深度 NIM-ZY-NM-NM-001 计量型原子力显微镜纳米测量系统操作技术规范 测量范围(0～2000)nm
一维格栅线间隔 NIM-ZY-NM-NM-001 计量型原子力显微镜纳米测量系统操作技术规范 测量范围(0～20)µm
两维格栅线间隔 NIM-ZY-NM-NM-001 计量型原子力显微镜纳米测量系统操作技术规范 测量范围(0～20)µm
不规则线间隔 NIM-ZY-NM-NM-001 计量型原子力显微镜纳米测量系统操作技术规范 测量范围(0～20)µm
标准球、标准球板、多球标准器、CT标准器 NIM-ZY-NM-NM-034; X射线三维尺寸测量机标准器校准规范
*能谱仪、电子探针分析仪 JJG 010-1996 分析型扫描电子显微镜检定规程
掩膜板、校对板 NIM-ZY-NM-NM-031纳米台阶高度与水平结构样板校准方法
微纳米位移定位平台 NIM-ZY-NM-NM-032 微纳米位移定位平台校准方法
掠入射X射线反射法校准纳米薄膜厚度 NIM-ZY-NM-CL-003 ; X射线反射法纳米薄膜厚度标准片校准方法
认可的检测能力
检测对象 检测标准名称及编号 项目名称 说明
表面粗糙度比较样块 表面粗糙度比较样块第3部分：电火花、抛（喷）丸、喷砂、研磨、锉、抛光加工表面 GB/T 6060.3-2008 全部条款 全部项目
接触（触针）式仪器 产品几何技术规范（GPS）表面结构 轮廓法 接触（触针）式仪器的标称特性 GB/T 6062-2009 全部条款 全部项目
表面粗糙度样板 表面粗糙度比较样块铸造表面 GB/T 6060.1-1997 全部条款 全部项目
表面粗糙度样板 表面粗糙度比较样块磨、车、镗、铣、插及刨加工表面 GB/T 6060.2-2006 全部条款 全部项目
表面粗糙度样板 表面粗糙度比较样块第3部分：电火花、抛（喷）丸、喷砂、研磨、锉、抛光加工表面 GB/T 6060.3-2008 全部条款 全部项目
标准黏度液 黏度测量方法 GB/T10247-2008 2.4.5 运动黏度
黏度测量方法 GB/T10247-2008 4.4.5 动力黏度
原油和液体石油产品密度实验室测定法（密度计法） GB/T1884-2000 10 密度
牛顿性液体 黏度测量方法 GB/T10247-2008 2.4.5 运动黏度
黏度测量方法 GB/T10247-2008 4.4.5 动力黏度