13741 |
电子天平 |
质量比较仪 |
>100 kg,≤150kg |
|
I |
|
>100 kg,≤150kg |
台 |
校准 |
2844 |
含6个校准点;每增加一个校准点,按照校准价格的10%收取费用。 |
22221 |
13742 |
电子天平 |
质量比较仪 |
>100 kg,≤150kg |
|
I |
|
>100 kg,≤150kg |
台 |
检验 |
2844 |
含6个检验点;每增加一个检验点,按照检验价格的10%收取费用。 |
22222 |
13743 |
电子天平 |
质量比较仪 |
>100 kg,≤150kg |
|
I |
|
>100 kg,≤150kg |
台 |
型式评价 |
40000 |
|
22223 |
13744 |
电子天平 |
质量比较仪 |
>100 kg,≤150kg |
|
I |
|
>100 kg,≤150kg |
台 |
测量审核 |
9900 |
含6个校准点 |
22224 |
13745 |
电子天平 |
质量比较仪 |
>100 kg,≤150kg |
|
I |
|
>100 kg,≤150kg |
台 |
测试 |
2844 |
含6个测试点;每增加一个测试点,按照测试价格的10%收取费用。 |
22225 |
13746 |
电子天平 |
质量比较仪 |
>100 kg,≤150kg |
|
I |
|
>100 kg,≤150kg |
台 |
检定 |
1185 |
|
22226 |
13747 |
非自动衡器 |
高精度电子秤;工业天平;电子天平 |
1000kg~3000kg(含3000kg) |
|
(II)级 |
|
1000kg~3000kg(含3000kg) |
台 |
型式评价 |
40000 |
|
22227 |
13748 |
薄膜分析仪 |
膜厚测量仪 |
/ |
/ |
|
|
<1000nm |
只 |
检测 |
1980 |
|
22228 |
13749 |
薄膜分析仪 |
膜厚测量仪 |
/ |
/ |
|
|
<1000nm |
只 |
检验 |
1980 |
|
22229 |
13750 |
薄膜分析仪 |
膜厚测量仪 |
/ |
/ |
|
|
<1000nm |
只 |
测试 |
1800 |
|
22230 |