服务能力

(说明：请输入需要查询仪器名称，系统会进行模糊查询。查询结果仅供参考。)
认可的校准与测量能力
被测（参量/仪器/物质） 校准类别/校准参量 测量仪器型号/校准方法 扩展不确定度 测量环境/影响量 测量等级
定值电阻，三端电阻 直流电阻标准及电阻源 高值 双电压源电压比例电桥
数值:2 to 2500
单位:µΩ/Ω
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:温度
指标:20 °C
最小:1.00E+07
最大:1.00E+14
单位:Ω
定值电阻，三端电阻 直流电阻标准及电阻源 高值 双电压源电压比例电桥
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:测试电压
指标:100 V
最小:1.00E+07
最大:1.00E+14
单位:Ω
直流分流器 大电流用直流电阻标准 基于直流电流比较仪的直流电桥
数值:20 to 100
单位:µΩ/Ω
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电流
指标:5 A to 5 kA
最小:0.01
最大:1
单位:mΩ
直流分流器 大电流用直流电阻标准 基于直流电流比较仪的直流电桥
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:电压
指标:< 5 V
最小:0.01
最大:1
单位:mΩ
多功能标准源 直流电阻标准及直流电阻源 多量程 直流电流比较仪电桥及高阻电桥
数值:5 to 30
单位:µΩ/Ω
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:温度
指标:20 °C
最小:1
最大:1.00E+08
单位:Ω
固定电感，可变电感，电感箱 电感：自感级等效串联电感 低值 麦克斯韦尔电桥
数值:30 to 3000
单位:µH/H
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:频率
指标:50 Hz to 2.5 kHz
最小:1
最大:500
单位:µH
固定电感，可变电感，电感箱 电感：自感级等效串联电感 中值 麦克斯韦尔电桥
数值:30 to 100
单位:µH/H
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:频率
指标:50 Hz to 2.5 kHz
最小:1
最大:1000
单位:mH
标准电容器（熔融石英电容器） 电容：电容及介电电容器的损耗因数 计算电容器，电容电桥
数值:0.04
单位:µF/F
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电容
指标:1 pF, 10 pF, 100 pF
最小:1
最大:100
单位:pF
标准电容器（熔融石英电容器） 电容：电容及介电电容器的损耗因数 计算电容器，电容电桥
数值:
单位:
k=:
置信概率:
是否为Urel:
参量:频率
指标: 1000 Hz, 1592 Hz
最小:1
最大:100
单位:pF
标准电容器(密封, 氮气及石英介质) 电容：电容及损耗因数 直接比对
数值:1 to 10
单位:µF/F
k=:2
置信概率:95%
是否为Urel:Yes
参量:电容
指标:0.5 pF, 1 pF, 10 pF, 100 pF, 1000 pF, 0.01 µF, 0.1 µF, 1 µF
最小:0.5
最大:1.00E+06
单位:pF
开展校准的被测设备清单
被测设备名称 校准方法（名称、编号、版本号） 限制范围和说明
*白度计 JJG512-2002 白度计检定规程
*测色色差计 JJG595-2002 测色色差计检定规程
*反射率测定仪 JJF1232-2009 反射率测定仪校准规范
彩色分析仪 JJF 1079-2002 彩色分析仪校准规范
彩色亮度计 NIM-ZY-GX- FS-411显示器用色彩亮度计校准方法; JJG 211-2005 亮度计检定规程; NIM-ZY-GX-GD-403 基于标准亮度源的亮度计校准方法
色温表 JJG 212-2003 色温表检定规程
分布温度标准灯 JJG 213-2003 分布（颜色）温度标准灯检定规程
摄像机 GB/T 15865-1995摄像机测量方法 第一部分：非广播单传感器摄像机
反射式电视测试卡 GB/T 13170-2011反射式电视测试图
照度计（光度计、光度探头、色彩照度计、多参数测试仪、黑白两用照度计、智能型多功能光度计、光通量计、宽量程照度计、快速存储光度计、测色光谱光度计、精密智能测光探测器、彩色照度亮度计） JJG245-2005 光照度计国家计量检定规程
认可的检测能力
检测对象 检测标准名称及编号 项目名称 说明
信息技术设备 信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB 17618-2015 4.2.6 信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR24-2015 4.2.6 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
电子设备的机箱、机柜 电子设备用机械构件 - 用于IEC 60917和IEC 60297的试验 - 第3部分:机箱、机柜及分机柜的电磁屏蔽性能试验 IEC 61587-3:2013 电磁屏蔽性能
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.2 放大倍率
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.3 真空度
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.5 图像畸变
扫描电子显微镜 扫描电子显微镜试验方法 JB/T6842-1993 4.11 试样台精确度
原子力显微镜 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 GB/T 27760-2011 全部条款 全部项目
微纳样板 产品几何量技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 测量标准 第1部分：实物测量标准 GB/T 19067.1-2003/ISO5436-1:2000 5.2, 6.1, 7.1, 7.2 深度测量标准 只测10nm~10um
薄膜 X射线反射法评估薄膜的厚度、密度和界面宽度—仪器要求，准直和定位，数据收集，数据分析和报告 ISO 16413:2013(E) 薄膜厚度
微纳米材料 金属材料—硬度和材料参数的仪器化压入试验 ISO 14577-1:2015(E) 压入硬度