检测对象

薄膜

序号

4

项目/参数-序号

1

项目/参数-名称

薄膜厚度

领域代码

30514

检测标准名称

X射线反射法评估薄膜的厚度、密度和界面宽度—仪器要求，准直和定位，数据收集，数据分析和报告 ISO 16413:2013(E)

备注

变更

编号

nami_7

研究所

纳米