7301 |
比色皿(透射比) |
玻璃比色皿 |
/ |
Urdl=0.5%(k=2) |
|
|
440nm |
个,几何条件,波长点 |
测试 |
360 |
2nm带宽,440nm定波长点下测量透射比及配套性,每个360元,增加波长点,增加几何条件,按照360元/波长点/几何条件标准收费 |
13161 |
7302 |
弱磁棒(磁化率测量) |
无磁样品(磁化率测量);弱磁样品(磁化率测量);弱磁材料(磁化率测量);弱磁金属(磁化率测量) |
Φ10×150mm,Φ10×200mm, |
8%(k=2) |
|
|
1×10-3 ~1×10-6 |
件 |
测试 |
1800 |
|
13163 |
7303 |
光探测器1 |
硅探测器;紫外探测器;紫敏硅探测器;硅光电二极管;光电探头;二极管;光电二极管;紫外增强型探测器;Si探测器;探头;光电探测器;接触网检测系统(燃弧检测单元); |
UV Si等 |
Urel=19.0% -1.7%(k=2)(200-400) nm |
|
|
光谱响应度 200nm~400nm |
支 |
测试 |
2250 |
|
13164 |
7304 |
压力传感器 |
|
/ |
0.5%,0.2%,0.1%,0.05% |
|
0.5%,0.2%,0.1%,0.05% |
不超过100MPa |
台 |
测试 |
792 |
|
13166 |
7305 |
总有机碳分析仪 |
TOC分析仪;TOC测定仪; |
/ |
总有机碳:U=1%,k=2; 总无机碳:U=1%,k=2 |
|
|
总有机碳(0-1000)mg/L;总无机碳(0-500)mg/L |
台 |
测试 |
1350 |
每额外增加一个项目增加1000元 |
13167 |
7306 |
铝膜测厚仪 |
硅片测厚仪 |
/ |
/ |
|
|
/ |
台 |
测试 |
3600 |
|
13170 |
7307 |
磁致伸缩液位计 |
磁致伸缩液位界面传感器、磁致伸缩传感器 |
量程<1000mm |
/ |
|
|
量程<1000mm |
台 |
测试 |
1800 |
|
13172 |
7308 |
扭矩仪 |
标准扭矩仪 |
/ |
(0.1-2.0)级 |
0.03级、0.05级、0.1级 |
|
(0.5-5000)Nm |
台/方向 |
测试 |
1035 |
检测双方向费用×2 |
13173 |
7309 |
压力传感器 |
压电式压力传感器 |
/ |
0.01%,0.02% |
|
0.01%,0.02% |
不超过100MPa |
台 |
测试 |
1620 |
单次送检台件数≥10台,建议工作日为20天。 |
13176 |
7310 |
激光干涉仪 |
激光干涉仪系统 |
/ |
0.2ppm |
|
|
(0-1000)mm |
台 |
测试 |
7200 |
|
13177 |