收费标准查询
仪器/样品名称 | 仪器别名 | 规格型号 | 不确定度 | 准确度等级 | 最大允许误差 | 测量范围 | 收费单位 | 项目类型 | 收费标准(元) | 收费备注 | ID | |
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17581 | 轨道粗糙度测量仪 | 轨道粗糙度测试仪 | / | 0~10μm | / | 台 | 测试 | 10000 | 增加1个测头,费用增加3000元。 | 26288 | ||
17582 | 高分辨透射式电子束显微镜 | / | MPE:±5% | / | 台 | 校准 | 12000 | 新增1个项目增加3000元. | 26289 | |||
17583 | 高分辨透射式电子束显微镜 | / | MPE:±5% | / | 台 | 测试 | 12000 | 新增1个项目增加3000元. | 26290 | |||
17584 | 激光共聚焦显微镜 | / | MPE:±5% | / | 台 | 校准 | 7200 | 新增1个项目增加2500元 | 26291 | |||
17585 | 激光共聚焦显微镜 | / | MPE:±5% | / | 台 | 测试 | 7200 | 新增1个项目增加2500元 | 26292 | |||
17586 | 干涉式三维表面形貌测量仪 | / | MPE:±5% | / | 台 | 校准 | 7200 | 新增1个项目增加2500元 | 26293 | |||
17587 | 干涉式三维表面形貌测量仪 | / | MPE:±5% | / | 台 | 测试 | 7200 | 新增1个项目增加2500元 | 26294 | |||
17588 | X/γ能谱仪 | LaBr、CeCr、NaI测量仪/探测器,γ标准源表面污染样品 、低本底多道γ能谱仪、剂量计 | 闪烁体/半导体 探测器 | (2~10)%(k=2) | (5-160)keV | 台 | 校准 | 3000 | 26295 | |||
17589 | X/γ能谱仪 | LaBr、CeCr、NaI测量仪/探测器,γ标准源表面污染样品 、低本底多道γ能谱仪、剂量计 | 闪烁体/半导体 探测器 | (2~10)%(k=2) | (5-160)keV | 台 | 测试 | 3000 | 26296 | |||
17590 | 数字式放射治疗静电计 | 剂量仪,静电计 | Unidos,Unidos E,Unidos webline,Dose 1,Dose 2,Supermax, | 0.21% | 4pA-4μA | 台 | 校准 | 3600 | 单通道费用为3600,多通道剂量仪按2000/通道收费 | 26297 |