检测对象

X、γ能谱仪

序号

4

项目/参数-序号

4

项目/参数-名称

能谱畸变

检测标准名称

半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 GB/T11685-2003 6.5/ GB/T11685

编号

hpl_dianli_18

研究所

电离