专利

专利名称

低损低介电材料的测量方法及测量系统

专利状态

授权

专利类型

发明专利

发明人员

徐浩,梁伟军,高秋来

发明单位

信息与电子计量科学研究所

国家

中国

申请部门

信息与电子计量科学研究所