专利

专利名称

可用于极低温测量的便捷芯片测试座

专利状态

授权

专利类型

发明专利

发明人员

钟源,李劲劲,曹文会,钟青,王雪深

发明单位

电磁计量科学研究所

国家

中国

申请部门

电磁计量科学研究所