全国纳米技术标委会纳米检测技术分技术委员会成立会议暨第一届全体委员大会召开

9月29日，全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测分技术委员会成立会议暨第一届全体委员大会在中国计量科学研究院(以下简称“中国计量院”)顺利召开。会议采用线上与线下相结合的形式。

全国纳米技术标委会主任委员、国家纳米科学中心主任、中国科学院院士、发展中国家科学院院士赵宇亮，中国计量院副院长杨平，国家标准化管理委员会标准技术管理司相关领导等人出席会议并发表讲话。

 图1.线上会议截图

会议上半程，国家标准化管理委员会领导宣读了“关于成立全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分技术委员会”（以下简称“纳米检测分委会”）的批示，肯定了纳米检测分委会的一贯工作，并结合国家政策导向与要求，对纳米检测分委会提出了切实的要求和建议。

赵宇亮从科学前沿和产业应用两方面深刻阐述了纳米技术标准化的重要意义和职责，并结合国际形势对纳米检测分委会提出了殷切期望。他指出，中国计量院是国家最高计量科学研究机构，应充分发挥“国家队”的作用，在全国范围内组织好纳米检测技术标准化工作向着更高水平快速、稳健地发展。

杨平论述了计量与标准化的内在联系，介绍了中国计量院多年来在计量与标准化领域深耕的成果。同时，代表中国计量院对国家标准化管理委员会和全国纳米技术标准化技术委员会在纳米检测分委会发展与筹建过程中给与的指导与支持表示感谢。

会议下半程，纳米检测分委会主任委员、中国计量院研究员高思田主持召开第一届全体委员大会，对纳米检测分委会章程、工作细则、标准体系框架与未来工作计划等进行了讨论与完善，同时组织全体委员进行了交流。

图2.会议合影

全国纳米技术标准化技术委员会第一届纳米检测技术分技术委员会编号为SAC/TC279/SC2，主要负责纳米检测技术领域国家标准制修订工作。分委会由35名委员组成，高思田任主任委员，方哲宇、丁荣任副主任委员，黄鹭任委员兼秘书长，秘书处由中国计量院承担。（文：黄鹭  图：李伟、贾鑫）