关于微纳米沟槽深度测量比对(光学显微镜法)报名(第二轮)的通知

各有关单位/实验室: 

计量比对作为保障量值准确一致、支撑计量事中事后监管和提升计量技术机构能力的有效手段,在计量工作中具有重要作用。根据《市场监管总局关于组织实施2019年国家计量比对项目的通知》(国市监计量(2019)151号)的内容,为进一步强化对标准物质研制单位的计量监管,中国计量科学研究院前沿计量科学中心作为“微纳米沟槽深度测量比对(光学显微镜法)”(2019-B-03)的组织单位和主导实验室,现将有关事宜通知如下:

一、参加对象

全国范围内研制或购置有干涉显微镜、共聚焦显微镜等光学原理显微镜的计量技术机构、科研院所、高校均可自愿报名参加此次比对,比对所使用的仪器必须具备溯源性且在有效期内。

“微纳米沟槽深度测量比对(光学显微镜法)”为B类比对,所需费用由参比实验室共同承担,需缴纳4800元整(人民币肆仟捌佰元整)的费用,相关测算依据已在中国计量科学研究院官网公示。

二、比对样品及所用方法

本次比对使用的沟槽深度标准器量值范围是500nm~5μm,在比对中将参照相关标准、规程与国际比对协议中的比对测试方法具体实施。。

三、报名事宜

联系人:皮磊、张树,电话:010-64524919、010-64524920,报名截至日期2020年06月20日。

参比实验室下载并填写报名表,将扫描件(盖红章)发送至邮箱:pilei@nim.ac.cn、zhangshu@nim.ac.cn,原件邮寄地址:北京市朝阳区北三环东路18号中国计量科学研究院5号楼1015室,皮磊(收),13717945421。

四、说明

报名结束后,比对将按照原进度安排开展。

中国计量科学研究院前沿计量科学中心

2020年05月14日