关于微纳米沟槽深度测量比对（光学显微镜法）报名（第二轮）的通知

各有关单位/实验室: 

计量比对作为保障量值准确一致、支撑计量事中事后监管和提升计量技术机构能力的有效手段，在计量工作中具有重要作用。根据《市场监管总局关于组织实施2019年国家计量比对项目的通知》（国市监计量（2019）151号）的内容，为进一步强化对标准物质研制单位的计量监管，中国计量科学研究院前沿计量科学中心作为“微纳米沟槽深度测量比对（光学显微镜法）”（2019-B-03）的组织单位和主导实验室，现将有关事宜通知如下：

一、参加对象

全国范围内研制或购置有干涉显微镜、共聚焦显微镜等光学原理显微镜的计量技术机构、科研院所、高校均可自愿报名参加此次比对，比对所使用的仪器必须具备溯源性且在有效期内。

“微纳米沟槽深度测量比对（光学显微镜法）”为B类比对，所需费用由参比实验室共同承担，需缴纳4800元整（人民币肆仟捌佰元整）的费用，相关测算依据已在中国计量科学研究院官网公示。

二、比对样品及所用方法

本次比对使用的沟槽深度标准器量值范围是500nm~5μm，在比对中将参照相关标准、规程与国际比对协议中的比对测试方法具体实施。。

三、报名事宜

联系人：皮磊、张树，电话：010-64524919、010-64524920，报名截至日期2020年06月20日。

参比实验室下载并填写报名表，将扫描件（盖红章）发送至邮箱：pilei@nim.ac.cn、zhangshu@nim.ac.cn，原件邮寄地址：北京市朝阳区北三环东路18号中国计量科学研究院5号楼1015室，皮磊（收），13717945421。

四、说明

报名结束后，比对将按照原进度安排开展。

中国计量科学研究院前沿计量科学中心

2020年05月14日