被测设备 （校准项目）名称
镀层厚度标准块（片）、膜厚标准片

序号
125    
校准方法 （名称、编号、版本号）
JJF1306-2011X射线荧光镀层测厚仪校准规范；GJB8687-2015 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程
编号
jiheliang_125
研究所
几何量所